1. 日立球差場發射透射電子顯微鏡HF5000
   

2. 標配日立生產的照射系統球差校正器（附自動校正功能）

3. 搭載具有高輝度、高穩定性的冷場FE電子槍

4. 鏡體和電源等的高穩定性使機體的性能大幅度提升

5. 觀察像差校正SEM/STEM圖像的同時觀察原子分辨率SE圖像

6. 采用側面放入樣品的新型樣品臺結構以及樣品桿

7. 支持高立體角EDX*的對稱配置（對稱Dual SDD*）

8. 采用全新構造的機體外殼蓋

9. 配備日立生產的高性能樣品桿*

• *

• 選項

高輝度冷場FE電子槍×高穩定性×日立制球面像差校正器

以長年積累起來的高輝度冷場FE電子源技術為基礎，進行優化，進一步實現電子槍的高度穩定性。
此外，還更新了鏡體，電源系統和樣品臺，以支持觀察亞?圖像，并提升了機械和電氣穩定性，然后與日立公司的球差校正器結合使用。
不僅可以穩定地獲得更高亮度更精密的探頭，而且自動像差校正功能可以實現快速校正，從而易于發揮設備的固有性能。使像差校正可以更實用。

Si（211）單晶體HAADF-STEM圖像（左）和圖像強度曲線分布（右下）、FFT功率譜（右上）

支持高立體角EDX*的對稱Dual SDD*

支持雙重配置100 mm2 SDD檢測器，以實現更高的靈敏度和處理能力進行EDX元素分析。
由于第二檢測器位于第一檢測器的對面位置，因此，幾乎不會因為樣品傾斜，導致X射線中的信號檢測量發生變化。所以，即使是結晶性樣品，也不用顧忌信號量，可*按照樣品的方向與位置進行元素分析。
此外，對于電子束敏感樣品、低X光輻射量的樣品，除了原子列映射，在低倍、廣視野的高精細映射等領域也極為有效。

GaAs（110）的原子柱EDX映射

球差場發射透射電子顯微鏡HF5000像差校正SEM圖像/STEM圖像　同時觀察

配有標配二次電子檢測器，可同時觀察像差校正SEM/STEM圖像。通過同時觀察樣品的表面和內部結構，可以掌握樣品的三維構造。
在像差校正SEM圖像中，除了可以通過校正球差來提高分辨率之外，還可以獲取更真實地樣品表面圖像。

Au/CeO2催化劑的SEM/ADF-/BF-STEM圖像（上段）和Au粒子的高分辨率圖像（下段